本发明公开一种半导体产品检测机及其检测方法，其包含一工作站台、一计算机单元、一识别相机及至少一检测相机。所述识别相机针对一半导体产品条上的一识别码进行辨识，并调出对应的映像图电子文档；所述至少一检测相机截取所述半导体产品的影像与一影像比对档进行一比对检测作业，并将一检测结果记录于所述计算机单元对应的映像图电子文档。本发明的半导体产品检测机除了能实现自动光学检测和避免人工标记或激光刻印于缺陷产品(不良品或次级品)时人为的操作或判断错误，也能防止缺陷产品(不良品或次级品)与良品混料，从而提高半导体成品的质量。