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> 技术详情
X射线残余应力测试系统校准试块制作方法
编号：S000025809
刷新日期：
有效日期至：
2020-09-29
浏览：
3630
次
对接邀请：
0
次
意向价格：
面议
所在区域：
中国 - 辽宁
技术领域：
信息通信 - 电子信息及通讯
转让类型：
合作研发
专利类型：
发明专利
技术成熟度：
可以量产
供应描述
本发明涉及一种X射线残余应力测试系统校准试块制作方法，包括以下步骤：1）采用颗粒直径为1
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机构地址：
Floor 4,B Building of Redbud Flower Business Center,Xinchangxilu Road,Jinfeng District,Yinchuan City,Ningxia,China
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认证方式：
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