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> 技术详情
一种具有减反射特性的亚波长硅纳米线阵列的制备方法
编号:S000033478
刷新日期:
有效日期至:
2020-10-12
浏览:
3765
次
对接邀请:
0
次
意向价格:
面议
所在区域:
中国 -
技术领域:
能源与环保 - 太阳能利用
转让类型:
技术转让
专利类型:
发明专利
技术成熟度:
可以量产
供应描述
本发明属于纳米技术领域,特别涉及一种具有减反射特性的亚波长硅纳米线阵列的制备方法。本发明采用n型(100)硅片,利用高真空磁控溅射技术在其表面沉积具有网状结构的银膜,然后采用湿法刻蚀技术,在硅表面获得具有减反射特性的亚波长锥形硅纳米线阵列,经测试,其反射率低于1%。本发明首次利用银膜催化刻蚀硅技术,具有无掩模与常温常压的工艺特征,操作简单,重复性与可控性好,为制备具有亚波长尺度的超减反硅表面纳米结构提供了新思路,为设计和构建新型高效硅太阳能电池提供了材料基础。
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机构地址:
Floor 4,B Building of Redbud Flower Business Center,Xinchangxilu Road,Jinfeng District,Yinchuan City,Ningxia,China
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认证方式:
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