本发明提供一种PZT调制系数测试装置及测试方法，其中PZT调制系数测试装置，包括：一窄线宽半导体激光器；一光隔离器，其输入端与窄线宽半导体激光器的输出端连接；一迈克尔逊干涉仪，其第一输入端与光隔离器的输出端连接；一光电探测器，其输入端与迈克尔逊干涉仪的输出端连接；一数据采集卡，其第一输入端与光电探测器的输出端连接；一数据处理系统，其输入端与数据采集卡的输出端连接；一载波电路，其第一输出端与迈克尔逊干涉仪的第二输入端连接，第二输出端与数据采集卡的第二输入端连接。本发明其可解决现有光纤激光式传感解调系统中PZT调制系数稳定控制与调节的技术问题。