本发明公开了一种功率MOSFET器件串联电阻的测试电路，属于半导体器件测试技术领域。所述测试电路包括脉冲发生器、相位伏安表、电压波形数字转换器、电流波形数字转换器、可调电感、第一选通开关和第二选通开关；脉冲发生器的信号端通过串联电流波形数字转换器、可调电感与第一选通开关的固定端电连接；第一选通开关的两个选择端分别与栅极和漏极电连接；第二选通开关的两个选择端分别与源极和漏极电连接；电压波形数字转换器的一端与可调电感电连接；相位伏安表电压输入端的一端与可调电感电连接，另一端接地；相位伏安表电流输入端与可调电感电连接。本发明为评估器件性能提供重要参数指标，对器件设计和提高器件开关特性具有重要意义。